Produkcja półprzewodników

Produkcja półprzewodników[1] – proces wykorzystywany do wytwarzania przyrządów półprzewodnikowych, zazwyczaj układów scalonych, takich jak mikroprocesory, mikrokontrolery i pamięci (takie jak pamięć RAM i pamięć flash). Jest to wieloetapowy proces fotolitograficzny i fizykochemiczny (obejmujący takie etapy, jak utlenianie termiczne, osadzanie cienkich warstw, implantacja jonów, trawienie), podczas którego na płytce, prawie zawsze krzemowej, zwykle wykonanej z czystego monokrystalicznego materiału półprzewodnikowego, stopniowo tworzą się układy elektroniczne.
Proces produkcyjny odbywa się w wysoce wyspecjalizowanych fabrykach półprzewodników, zwanych także foundry lub fab[2], przy czym centralną część stanowi clean room. W bardziej zaawansowanych procesach produkcji, takich jak nowoczesne 14/10/7 nm produkcja może trwać do 15 tygodni, przy czym średnia w branży wynosi 11–13 tygodni[3]. Produkcja w zaawansowanych zakładach produkcyjnych jest całkowicie zautomatyzowana, a transport płytek krzemowych z maszyny do maszyny odbywa się za pomocą zautomatyzowanych systemów obsługi materiałów[4].
Do firm produkujących maszyny wykorzystywane w procesie wytwarzania półprzewodników przemysłowych zaliczają się ASML, Applied Materials, Tokyo Electron i Lam Research.
Wymiar charakterystyczny
Wymiar charakterystyczny[5] (ang. feature size) jest definiowany jako najmniejsza szerokość linii jaką można uzyskać w procesie produkcji[6][7].
Każda nowoczesna generacja procesów wytwarzania półprzewodników jest definiowana przez minimalny wymiar charakterystyczny podawany w nanometrach (historycznie w mikrometrach) dla długości bramki tranzystora np technologia produkcji 22 nm[8].
Początkowo długość bramki tranzystora była mniejsza niż to by wynikało z technologii produkcji jednak ten trend się odwrócił w 2009[9]. Wymiar charakterystyczny może nie mieć odzwierciedlenia do do wartości ogłaszanej w przekazach medialnych. Dla przykładu, technologia produkcji 10 nm Intela posiada tranzystory FinFET z kanałem o szerokości 7 nm, więc technologia 10 nm Intela jest podobna do technologii 7 nm TSMC[10][11]. Jako inny przykład, technologie produkcji 14 nm i 12 nm od GlobalFoundries posiadają zbliżone wartości wymiaru charakterystycznego[12].
Lista kroków
Poniżej jest przedstawiona lista technik, które są używane w konstrukcji nowoczesnego urządzenia elektronicznego. Lista ta niekoniecznie oznacza konkretną kolejność, czy też ilość aplikacji danej techniki. Procesy te są wykonywane po zaprojektowaniu układu scalonego.
- Przetwarzanie wafli (zwane też jako front-end)[13][14]:
- Czyszczenie na mokro
- Czyszczenie z rozpuszczalnikami jak aceton, trichloroeten czy woda ultra-czysta
- Roztwór pirania
- Czyszczenie RCA
- Czyszczenie przez wirowanie[15]
- Pasywacja powierzchni
- Fotolitografia
- Maskowanie
- Implantacja jonów
- Trawienie (ang. etching)[16]
- Chemiczne osadzanie z fazy gazowej (CVD)
- Epitaksja z fazy gazowej z użyciem związków metaloorganicznych (MOCVD), używane w diodach LED
- Osadzanie warstw atomowych (ALD)
- Fizyczne osadzanie z fazy gazowej (PVD)
- Epitaksja[17][18]
- Osadzanie wspomagane wiązką jonów (ang. ion beam deposition, IBD)[19]
- Usuwanie fotorezystu plazmą[20]
- Zabiegi termiczne
- Galwanostegia (ang. electrochemical deposition, ECD)
- Polerowanie chemiczno-mechaniczne (ang. chemical-mechanical polishing, CMP)
- Testowanie wafla
- Czyszczenie na mokro
- Przygotowanie chipu
- Łączenie wafli
- Cięcie
- Pakowanie układu scalonego
- Wykonywane są połączenia struktury z wyprowadzeniami zewnętrznymi za pomocą drucików aluminiowych lub złotych
- Testowanie układu scalonego
Zobacz też
Przypisy
- ↑ M. Szwast i inni, Pozyskiwanie helu z gazu ziemnego za pomocą technik membranowych, „Inżynieria i Aparatura Chemiczna”, Nr 4, 2014, ISSN 0368-0827 [dostęp 2025-05-26] (pol.).
- ↑ Hendrik Purwins i inni, Regression Methods for Virtual Metrology of Layer Thickness in Chemical Vapor Deposition, „IEEE/ASME Transactions on Mechatronics”, 19 (1), 2014, s. 1–8, DOI: 10.1109/TMECH.2013.2273435, ISSN 1941-014X [dostęp 2025-05-26].
- ↑ 8 Things You Should Know About Water & Semiconductors [online], CWR [dostęp 2025-05-26] (ang.).
- ↑ Nishi Yoshio, Handbook of Semiconductor Manufacturing Technology, 2017.
- ↑ Małgorzata Napieralska i inni, Podstawy mikroelektroniki, Wydawnictwo Politechniki Łódzkiej, 2002, ISBN 978-83-89003-01-0 [dostęp 2025-05-26].
- ↑ Yoshio Nishi, Robert Doering, Handbook of Semiconductor Manufacturing Technology, CRC Press, 19 grudnia 2017, ISBN 978-1-4200-1766-3 [dostęp 2025-05-26] (ang.).
- ↑ Chris Mack, Fundamental Principles of Optical Lithography: The Science of Microfabrication, John Wiley & Sons, 11 marca 2008, ISBN 978-0-470-72386-9 [dostęp 2025-05-26] (ang.).
- ↑ Szymon Piotrowski, Stan i perspektywy dla sektora półprzewodników w Polsce [online], Wydział Prawa i Administracji Uniwersytetu im. Adama Mickiewicza w Poznaniu, 2024.
- ↑ A Better Way to Measure Progress in Semiconductors - IEEE Spectrum [online], spectrum.ieee.org [dostęp 2025-05-26] (ang.).
- ↑ Ian Cutress, Intel's 10nm Cannon Lake and Core i3-8121U Deep Dive Review [online], www.anandtech.com [dostęp 2025-05-26].
- ↑ Jacob Ridley, Intel 10nm isn't bigger than AMD 7nm, you're just measuring wrong, „PC Gamer”, 29 kwietnia 2020 [dostęp 2025-05-26] (ang.).
- ↑ David Schor, VLSI 2018: GlobalFoundries 12nm Leading-Performance, 12LP [online], WikiChip Fuse, 22 lipca 2018 [dostęp 2025-05-26] (ang.).
- ↑ Introduction to Semiconductor Technology [online], STMicroelectronics (ang.).
- ↑ Grzegorz Kamiński, Firmy półprzewodnikowe, czyli jakie? - Grzegorz Kamiński wskazuje różnice oraz wyjaśnia, na czym polega produkcja front-end i back-end [online], Mikrokontroler.pl - portal dla elektroników, 15 kwietnia 2024 [dostęp 2025-05-27].
- ↑ Karen Reinhardt, Werner Kern, Handbook of Silicon Wafer Cleaning Technology, William Andrew, 16 marca 2018, ISBN 978-0-323-51085-1 [dostęp 2025-05-27] (ang.).
- ↑ Małgorzata Napieralska i inni, Podstawy mikroelektroniki, Wydawnictwo Politechniki Łódzkiej, 2002, ISBN 978-83-89003-01-0 [dostęp 2025-05-27].
- ↑ Scotten Jones, VLSI Symposium - TSMC and Imec on Advanced Process and Devices Technology Toward 2nm [online], Semiwiki, 26 maja 2025 [dostęp 2025-05-27] (ang.).
- ↑ Epitaxy [online], Semiconductor Engineering [dostęp 2025-05-27] (ang.).
- ↑ Ion beam deposition goes 300mm with Aviza’s new tool | Semiconductor Digest [online] [dostęp 2025-05-27] (ang.).
- ↑ Je Hyeok Ryu, Byoung Hoon Kim, Sung Jin Yoon, Characterization of thin carbonized photoresist layer and investigation of dry strip process through real-time monitored variable temperature control, 2017 28th Annual SEMI Advanced Semiconductor Manufacturing Conference (ASMC), maj 2017, s. 102–106, DOI: 10.1109/ASMC.2017.7969207 [dostęp 2025-05-27].